微波/毫米波晶圓探針機台之散射參數量測技術

本技術源自於黃建彰教授執行多家公司產學案的綜合成果。目的為發展寬頻量測與校正整合式軟體系統,用以控制量測儀器並顯示其校正量測結果,避免美國國家標準與技術研究院(US National Institute of Standards and Technology, NIST)軟體授權相關問題。此外,本技術也發展校正件設計程序以及微波/毫米波晶圓探針量測標準步驟,予需要的工程人員參考。

圖1. 本項技術開發之量測控制與校正計算分析軟體-1
圖2. 本項技術開發之量測控制與校正計算分析軟體-2