本技術源自於黃建彰教授執行多家公司產學案的綜合成果。目的為發展寬頻量測與校正整合式軟體系統，用以控制量測儀器並顯示其校正量測結果，避免美國國家標準與技術研究院（US National Institute of Standards and Technology, NIST）軟體授權相關問題。此外，本技術也發展校正件設計程序以及微波／毫米波晶圓探針量測標準步驟，予需要的工程人員參考。